Микроскоп Levenhuk 870T

Профессиональный лабораторный микроскоп. Тринокуляр. Револьверное устройство на 4 объектива. Увеличение от 40х до 2000х. Встроенный конденсор темного поля. План-ахроматические объективы 4х, 10х, 40х, 100х PLAN. Парные широкопольные окуляры PLAN WF 10х; PLAN WF 20х. Грубая и точная фокусировка, предусмотрена возможность регулировки апертурной и полевой диафрагм. Может использоваться как цифровой микроскоп.

Профессиональный лабораторный микроскоп предназначен для проведения исследований в медучреждениях. Тринокулярное устройство микроскопа позволяет использовать прибор в качестве цифрового микроскопа, укомплектовав его камерой-окуляром. Револьверное устройство на 4 объектива: планахроматические 4х, 10х, 40х, 100х PLAN. Результирующее увеличение в широком диапазоне: от 40х до 2000х. С помощью данной модели можно проводить исследования как по методу светлого поля, так и по методу темного поля, благодаря встроенному конденсору. Микроскоп оснащен парными широкопольными окулярами PLAN WF 10х, PLAN WF 20х. Фокусировка микроскопа Levenhuk 870Т производится за счет винтов грубой и точной настройки резкости, плавно, без рывков. Микроскоп оснащен встроенной галогенной лампой с опцией регулировки яркости. Оптические элементы имеет полное многослойное просветление и передают четкое изображение.

Технические характеристики
Тип микроскопа	биологические, световые/оптические
Тип насадки	тринокулярные
Материал оптики	оптическое стекло
Увеличение, крат	40–2000
Окуляры	парные PLAN 10х, PLAN WF20х
Объективы	4х, 10х, 40х, 100х
Револьверное устройство	на 4 объектива
Межзрачковое расстояние, мм	55–75
Предметный столик, мм	140х155
Диапазон перемещения предметного столика, мм	70x50
Диоптрийная коррекция окуляров, D	±5
Конденсор	Аббе N.A. 1,25 конденсор темного поля
Диафрагма	ирисовая диафрагма премиум-класса
Фокусировка	точная: 0,002 мм грубая: 25 мм
Подсветка	галогенная лампа, 6 В/20 Вт
Регулировка яркости	есть
Источник питания	220 В/50 Гц
Угол наклона окулярной насадки	30°
Назначение	лабораторные/медицинские
Расположение подсветки	нижняя
Метод исследования	светлое поле,темное поле